Röntgenfluoreszenzspektrometer (XRF) Hersteller und Lieferant in China
Beschichtungsdickenmessgerät XRF-Analysator Beschichtungsdickenmessgerät XRF-Analysator
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Beschichtungsdickenmessgerät XRF-Analysator

Thick800A umfasst die Messung der Beschichtungsdicke mit vollautomatischem Softwarebetrieb, Mehrpunktprüfung, Software zur Steuerung des Instruments und einer beweglichen Plattform. Es ist ein leistungsstarkes Instrument, das mit einer speziellen Software ausgestattet ist und in der Beschichtungsindustrie weit verbreitet ist.
  • ModellThick800A
  • MarkeLABOAO
  • HafenJeder Hafen in China
  • PaketSperrholzkoffer Paket
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BESCHREIBUNG

Das Instrument ist speziell für die Messung der Beschichtungsdicke und die schnelle und zerstörungsfreie Analyse von Elementen und Inhalten der Beschichtung konzipiert. Hauptsächlich angewendet in der Edelmetall- und Schmuckverarbeitungsindustrie; Bank, Schmuckverkaufs- und Erkennungsinstitution, Galvanikindustrie.


Anwendung

Erkennung der Beschichtungsdicke von Metallen, des Inhalts der Beschichtungslösung und der Beschichtung.

Erkennung von Gold, Platin, Silber, anderen Edelmetallen und verschiedenen Schmuckinhalten.

Hauptsächlich angewendet in der Edelmetall- und Schmuckverarbeitungsindustrie; Bank, Schmuckverkaufs- und Erkennungsinstitution, Galvanikindustrie.

EIGENSCHAFTEN

1. Aufhellung von oben: Erfüllen Sie die Anforderung zum Testen von Proben mit unterschiedlichen Dicken und unregelmäßigen Formen.

2. Mikrokollimator: 0,1 × 1,0; kann beim Testen von Mikropunkten verwendet werden, um die Testgenauigkeit zu verbessern.

3. Bewegliche Plattform mit hoher Genauigkeit: Die wiederholte Ortungsgenauigkeit beträgt weniger als 0,005 mm und der Testpunkt kann genau lokalisiert werden.

4. Höhenlaser: Die automatische Höhenpositionierung gewährleistet die Prüfung auf unregelmäßige Proben und schützt gleichzeitig die Auf- und Abwärtsplattform.

5. Automatische Punktsuche: Lokalisiert den Punkt genau, um sicherzustellen, dass der Testpunkt auf den Punkt ausgerichtet ist.

6. Beliebiges Maß mit Maus: Maus kann die bewegliche Plattform steuern; es ist in der Lage, den Testpunkt mit der Maus anzuklicken.

7. Detektor mit hoher Auflösung: Verbesserung der Analysegenauigkeit.

8. Sicherheit: Hervorragende Strahlenabschirmung; Die Testschnittstelle ist durch einen hochempfindlichen Sensor geschützt.

SPEZIFIKATIONEN

Modell

Thick800A

Erfassungsbereich für Plattierung

25 Elemente wie Cr \Fe l Ni \Cu \Zn \Au \Ag \Pt \ Pd

Beschichtungsschichten

5 Schichten

Stabilität

0.005~0.01μm

RSD

0.1%

Hervorragende Wiederholbarkeit

0.1%

Langzeitarbeitsstabilität

0.1%

Umgebungstemperatur

15-15

Modelle

Beliebige optionale Analyse- und Identifizierungsmodelle;

Unabhängige Matrixeffekt-Korrekturmodelle;

Multivariables nichtlineares Regressionsverfahren;

Stromversorgung

AC 220V+5V

KONFIGURATIONSLISTE

1. Probenraum öffnen

2. Hoch- und Niederspannungsnetzteil

3. Doppel-Laser-Ortungsgerät

4. Röntgenröhre

5. Abschirmung aus Bleiglas

6. Höhengeber

7. Si-Pin-Detektor

8. Schutzwandler

9. Elektronische Schaltung anhand des Signals erkennen

10. Computer und Tintenstrahldrucker

11. Präzise bewegliche 2-D-Probenplattform. Das Erkennungssystem kann angehoben und abgesenkt werden, um 3-D-Bewegungen zu realisieren.

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